在SMT贴片、汽车电子甚至航空航天领域,“看不见的缺陷”才是最大的品质杀手——BGA虚焊、通孔透锡不足、FPCB内部断裂…传统人工抽检不仅效率低,还可能漏检关键隐患X-ray检测。我们实测了一套来
在电子制造领域,有一个常见但又令人头疼的问题:焊点虚焊X-ray检测。尤其是在使用BGA封装器件时,传统目检和显微镜检测几乎束手无策。这个时候,X-RAY无损检测技术就成了“火眼金睛”,让隐藏在芯片下
在现代电子制造中,BGA(BallGridArray,球栅阵列封装)是一种被广泛使用的封装形式,尤其在高密度、高性能的电路设计中几乎无处不在X-ray检测。然而,BGA焊接也带来了一个很大的检测难
BGA焊接质量评估的挑战BGA是一种高密度封装技术,其底部排列着众多微小的焊球,焊接后焊球被封装材料覆盖,传统光学检测难以发现内部缺陷X-ray检测。这使得BGA焊接质量评估面临以下挑战:焊球内部
BGA(BallGridArray)封装因其高密度、高性能的特点,在电子产品中被广泛应用X-ray检测。但正是由于它的焊点隐藏在芯片底部,传统可视检测手段很难发现其焊接缺陷。因此,X-Ray无损检